IC/LAMP 捲對捲檢測機

◆   尺寸：L3700 mm * W800 mm * H1600 mm。

◆   可儲存瑕疵影像，並框選顯示瑕疵大小。

◆   生產履歷紀錄，可搭配後台系統，客製化拋接資料。

◆   標記瑕疵，可搭配噴墨、雷射、畫記筆輔助。

◆   NG可移至站外Review區進行確認。

◆   AI軟體，可原機加入訓練好的Model進行檢測。

◆   電鍍後端子。

◆   可檢產品尺寸：15 mm~ 25 mm寬幅產品。